IC高頻近場掃描儀 信號分析儀

FLS 106 IC set ，IC高頻近場掃描儀可以在電子組件的集成電路上方，借助ICR-近場微探頭對頻率在6GHz以內的高頻磁場或電場進行高分辨率（50-100µm）測量。 使用近場探頭和帶有SH 01探頭支架的場源 使用ICR-探頭（旋轉單元） 工作狀態下對集成電路的采樣 四軸定位系統 可提供一個掃描臺 GND/CB 和附件隨后交付 顧客進行測試時用到的其他附件在協商后也包含在供貨范圍

FLS 106 IC set IC高頻近場掃描儀內容：

1x FLS 106 IC

1x CS-Scanner, ChipScan-Scanner

1x GND 25

1x DM-CAM

1x Rotary unit

1x DM-CAM holder.3, SMA

1x FLS 106 IC acc

技術參數：

 FLS 106 IC主機

ChipScan-Scanner 軟件 

ChipScan-Scanner軟件用于自動測量電子組件的近電場和近磁場，該軟件可以在電子組件上方的某一平面或某一空間范圍內進行檢測，可以顯示測量結果。從而精確快速的評估近場，并對測量結果進行多種處理和分析；還能方便地輸出圖像和數據，例如文檔或進一步的數學分析。